تفاصيل الوثيقة

نوع الوثيقة : مقال في مجلة دورية 
عنوان الوثيقة :
إنحلال قدرة الكشف للكواشف الشبه موصلة بسبب اصطياد حوامل الشحنة
Resolution degradation of semiconductor detectors
 
الموضوع : semiconductors 
لغة الوثيقة : الانجليزية 
المستخلص : من المعروف أن تجمع الشحنات في كواشف الأشعة السينية الشبه موصلة بسبب محاصرة الناقل تعتبر سبب رئيسي في توسيع الإشارة. في هذه الورقة نقدم مجموعة من نتائج الحسابات للجهاز لكشف TlBr باستخدام المنهج التحليلي تم تطويرها في عمل سابق لنا والتي تعتمد على مبدأ إرتباط التقلبات في توزيع امتصاص الفوتون بالتقلبات في الشحنة التي تم جمعها. باستخدام القيم المقاسة من عوامل النقل للإلكترونات والثقوب في مواد الكاشف حصلنا على اتفاق ممتاز مع التجربة في نطاق الطاقة 6-660 كيلوفولت للأشعة السينية. 
ردمد : 1012-8832 
اسم الدورية : الادوات النووية وطرق البحث العلمي في الفيزياءA 
المجلد : 19 
العدد : 2 
سنة النشر : 1425 هـ
2005 م 
نوع المقالة : مقالة علمية 
تاريخ الاضافة على الموقع : Monday, August 4, 2008 

الباحثون

اسم الباحث (عربي)اسم الباحث (انجليزي)نوع الباحثالمرتبة العلميةالبريد الالكتروني
أليكس ج. كوزوريزوفKozorezov, Alix G.باحث رئيسيدكتوراه 
هالة عبد العزيز الجوهريAl-Jawhari, Hala Abdulazizباحث مشاركدكتوراه 

الملفات

اسم الملفالنوعالوصف
 Paper 2.pdf pdf 

تحميل الصفحة

الرجوع إلى صفحة الأبحاث